致茂Chroma19020/21/22/23多通道耐壓測(cè)試儀

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致茂Chroma19020/21/22/23多通道耐壓測(cè)試儀

主要特色：

• 十組通道在一臺(tái)設(shè)備
• 十組同步輸出與量測(cè)
• ACWV / DCWV / IR 三合一安規(guī)測(cè)試
• 10 臺(tái)主/從機(jī)控制
• 可程式電壓輸出及限制值
• OSC 開(kāi)短路偵測(cè)
• Flashover 電氣閃絡(luò)偵測(cè)
• 5kVac & 6kVdc 耐壓測(cè)試
• 1MΩ ~ 50GΩ 絕緣阻抗測(cè)試
• 標(biāo)準(zhǔn) RS232 / Handler / GPIB 介面
• 大型 LCD 面板
• 面板鎖定功能
• CE 認(rèn)證

應(yīng)用范圍：

• 電源線(xiàn)
• 電容
• 電阻
• 開(kāi)關(guān)
• 連接器
• 變壓器
• 充電器
• 電源轉(zhuǎn)換變流器

高效率耐壓測(cè)試解決方案

耐壓測(cè)試是電氣安規(guī)測(cè)試中主要的項(xiàng)目之一，所有的電氣元件及產(chǎn)品，包含變壓器、電容、電源供應(yīng)器、充電器、家電產(chǎn)品等，皆需要進(jìn)行耐壓測(cè)試。 Chroma結(jié)合30年以上開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)耐壓測(cè)試開(kāi)發(fā)全新架構(gòu)的19020多通道掃描耐壓測(cè)試器，可同時(shí)量測(cè)所有通道的耐壓漏電流值，蕞高可讓您同時(shí)對(duì)100 個(gè)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試。使用19020不需另外購(gòu)買(mǎi)多臺(tái)耐壓測(cè)試器，減少產(chǎn)線(xiàn)空間浪費(fèi)，單次多通道測(cè)試，提升電氣安規(guī)測(cè)試的效率，對(duì)于產(chǎn)線(xiàn)上只需要做耐壓測(cè)試的產(chǎn)品，可增進(jìn)產(chǎn)線(xiàn)效能，減少測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)。 19020同樣具有電氣閃絡(luò)(Flashover) 偵測(cè)功能以及開(kāi)短路偵測(cè)(OSC) 強(qiáng)大功能，產(chǎn)品包含多項(xiàng)Z利，是電氣安規(guī)耐壓測(cè)試蕞佳的利器，不但擁有可靠的品質(zhì)，更能創(chuàng)造高效率的測(cè)試平臺(tái)。

世界S創(chuàng)同步耐壓測(cè)試

19020具有世界S創(chuàng)的同步耐壓測(cè)試功能，單機(jī)可同時(shí)10組通道同步輸出及量測(cè)，大可連接10臺(tái)單機(jī)控制(Master & Slave) 共100 組通道，也可進(jìn)行分組輸出，除了避免相鄰測(cè)試的壓差產(chǎn)生，更可增進(jìn)產(chǎn)線(xiàn)效率。

產(chǎn)品應(yīng)用 

19020可應(yīng)用各種電氣產(chǎn)品，包含品保抽樣檢驗(yàn)測(cè)試、產(chǎn)線(xiàn)測(cè)試等耗時(shí)的測(cè)試。

 同步耐壓測(cè)試

多顆待測(cè)物耐壓測(cè)試蕞常碰見(jiàn)的課題是輸出無(wú)法同步。在產(chǎn)線(xiàn)規(guī)劃或自動(dòng)化規(guī)劃時(shí)，為達(dá)到設(shè)備極小化及大空間利用，二個(gè)待測(cè)物之間的距離會(huì)很小。以輸出電壓5kVac為例，當(dāng)耐壓測(cè)試器的輸出不同步時(shí)，將會(huì)造成二個(gè)待測(cè)物之間產(chǎn)生高電壓差(大可達(dá)14kV peak-peak) 的放電，導(dǎo)致治具損壞及測(cè)試誤判。 Chroma 19020將輸出電壓同步化，相鄰的二端高壓之間將不會(huì)發(fā)生高壓差而導(dǎo)致放電，不但可延長(zhǎng)您產(chǎn)線(xiàn)設(shè)備的壽命，也減少測(cè)試誤判的情形發(fā)生。

 電氣閃絡(luò) (Flashover)偵測(cè)

19020 與Chroma其它安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有Flashover偵測(cè)功能。 Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測(cè)物失去原有之絕緣特性，形成暫態(tài)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無(wú)法檢出不良，須以測(cè)試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè)為高壓測(cè)試*的檢視項(xiàng)目之一。

 開(kāi)短路偵測(cè) (OSC)

OSC 功能為偵測(cè)測(cè)試過(guò)程中是否有開(kāi)路(接觸不良)或短路(待測(cè)物短路)的情形發(fā)生。測(cè)試過(guò)程中若發(fā)生開(kāi)路現(xiàn)象，會(huì)導(dǎo)致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知并篩選，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害，節(jié)省測(cè)試成本。

一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)μF之間，一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量(圖6)，一般低于10pF ，而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象。而當(dāng)待測(cè)物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正常現(xiàn)象，因此可利用電容量變化之上下限值判定出短路問(wèn)題。

 產(chǎn)品應(yīng)用

Chroma 19020 針對(duì)各種不同的電氣零組件與產(chǎn)品，皆可用多通道耐壓測(cè)試，將多個(gè)待測(cè)物一次測(cè)試完成。如 :

• 電源線(xiàn) (Power Cord)與相關(guān)線(xiàn)材在自動(dòng)化的應(yīng)用
• 電容 (Capacitor)、電阻 (Resistance) 在自動(dòng)化的應(yīng)用
• 開(kāi)關(guān) (Switch)與連接器 (Connector) 的絕緣測(cè)試
• 變壓器 (Transformer) 的多 pin 或多顆一次測(cè)試
• 充電器 (Charger) 及電源轉(zhuǎn)換變流器 (adapter) 的產(chǎn)線(xiàn)規(guī)劃

19020搭配三通道掃描器，可以一次做完三個(gè)測(cè)試條件的耐壓絕緣測(cè)試。以一個(gè)只有兩個(gè)線(xiàn)圈的變壓器為例，先測(cè)試線(xiàn)圈之間的耐電壓測(cè)試，再測(cè)試兩個(gè)線(xiàn)圈與鐵心之間的耐電壓與絕緣。

• 三次耐壓測(cè)試只需要花一次載入待測(cè)物的時(shí)間
• 變壓器，共模電感，電源供應(yīng)器

針對(duì)不同的測(cè)試方案，Chroma 可提供相關(guān)附件與治具，請(qǐng)與當(dāng)?shù)胤?wù)人員聯(lián)系以取得*資訊。

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